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2025

9-14

高性能場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是現(xiàn)代半導(dǎo)體制造中的重要工具。它結(jié)合了場(chǎng)發(fā)射源（FEG）和掃描電子顯微鏡（SEM）的優(yōu)勢(shì)，能夠提供高分辨率、高靈敏度的成像效果。高性能場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的優(yōu)勢(shì)使其在半導(dǎo)體行業(yè)的各個(gè)階段，尤其是在微納米級(jí)結(jié)構(gòu)的研究與制造過(guò)程中，發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。一、提高分辨率與成像精度半導(dǎo)體制造中，器件尺寸越來(lái)越小，納米尺度的特征要求顯微技術(shù)具備超高的分辨率通過(guò)場(chǎng)發(fā)射電子槍產(chǎn)生電子束，相較于傳統(tǒng)的熱陰極電子槍，具有更高的亮度和更小的電子束直徑，能有效提高分辨率，達(dá)到納米級(jí)別...

2025

9-11

超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的工作原理及應(yīng)用

超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一種基于場(chǎng)發(fā)射電子槍的掃描電子顯微鏡，其通過(guò)電子束掃描樣品表面并進(jìn)行成像，以高分辨率展示樣品的微觀結(jié)構(gòu)。與傳統(tǒng)的電子顯微鏡相比，它具有更高的分辨率、優(yōu)異的成像質(zhì)量和更強(qiáng)的分析能力。一、工作原理超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的核心技術(shù)是場(chǎng)發(fā)射電子槍。該電子槍利用強(qiáng)電場(chǎng)將電子從尖銳的金屬針尖上抽出，并加速這些電子形成電子束。與傳統(tǒng)的熱發(fā)射電子槍不同，能夠在較低的溫度下產(chǎn)生更細(xì)的電子束，這使得它能夠提供比傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡更高的分辨率。其工作過(guò)程如下：1、電子源發(fā)射...

2025

9-8

環(huán)境掃描鎢燈絲電鏡在生物樣品觀察中的優(yōu)勢(shì)

環(huán)境掃描鎢燈絲電鏡是一種在氣體環(huán)境下進(jìn)行掃描電子顯微鏡觀察的技術(shù)。與傳統(tǒng)的掃描電子顯微鏡（SEM）不同，它能夠在相對(duì)較低的真空或環(huán)境氣體下觀察生物樣品，因此特別適用于生物樣品、濕潤(rùn)樣品以及低真空條件下的研究。通常使用鎢燈絲作為電子槍源，它能夠提供高亮度的電子束，并且具有較好的穩(wěn)定性和較長(zhǎng)的使用壽命，廣泛應(yīng)用于生物學(xué)、材料學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域。環(huán)境掃描鎢燈絲電鏡特別適用于生物樣品的觀察，其優(yōu)勢(shì)主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：1、保留樣品的自然狀態(tài)最大的優(yōu)勢(shì)之一是能夠在接近自然的濕度和溫度條件下...

2025

9-5

STEM透射電鏡在半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用

透射電子顯微鏡和掃描透射電子顯微鏡是現(xiàn)代電子顯微學(xué)中非常重要的兩種技術(shù)。STEM透射電鏡結(jié)合了掃描電子顯微鏡和透射電子顯微鏡（TEM）的優(yōu)點(diǎn)，在半導(dǎo)體領(lǐng)域的應(yīng)用尤為廣泛，特別是在半導(dǎo)體材料、器件結(jié)構(gòu)以及缺陷分析等方面，具有重要的意義。以下是STEM透射電鏡在半導(dǎo)體領(lǐng)域的幾項(xiàng)關(guān)鍵應(yīng)用。一、半導(dǎo)體材料的微觀結(jié)構(gòu)表征半導(dǎo)體材料的微觀結(jié)構(gòu)對(duì)其性能至關(guān)重要。在半導(dǎo)體制造過(guò)程中，材料的晶體質(zhì)量、晶界、缺陷等都直接影響最終產(chǎn)品的性能。它能夠提供原子級(jí)別的分辨率，是研究半導(dǎo)體材料微觀結(jié)構(gòu)的理...

2025

8-21

掃描透射電子顯微鏡（STEM）的原理與優(yōu)勢(shì)

掃描透射電子顯微鏡（STEM）是一種融合透射電子顯微鏡（TEM）與掃描電子顯微鏡（SEM）技術(shù)的分析工具，其核心原理基于高能電子束與樣品的相互作用及逐點(diǎn)掃描成像機(jī)制。工作原理：STEM通過(guò)場(chǎng)發(fā)射電子槍產(chǎn)生高度聚焦的電子束，經(jīng)電磁透鏡系統(tǒng)會(huì)聚成原子尺度的電子探針。在掃描線圈控制下，電子探針在樣品表面進(jìn)行逐點(diǎn)光柵掃描。當(dāng)電子束穿透樣品時(shí)，與原子發(fā)生彈性/非彈性散射，透射電子或散射電子被樣品下方的探測(cè)器接收。例如，環(huán)形暗場(chǎng)（ADF）探測(cè)器收集高角度散射電子，其信號(hào)強(qiáng)度與原子序數(shù)平方...

2025

8-16

高分辨率掃描電鏡在生物樣品分析中的應(yīng)用

高分辨率掃描電鏡在生物樣品分析中具有極為重要的應(yīng)用價(jià)值。它通過(guò)掃描電子束與樣品表面相互作用，提供高分辨率的表面形貌圖像，并能夠獲取樣品的組成、結(jié)構(gòu)及其功能特性。特別是在生物學(xué)、醫(yī)學(xué)以及生命科學(xué)領(lǐng)域，被廣泛應(yīng)用于觀察細(xì)胞、組織以及微觀生物結(jié)構(gòu)的細(xì)節(jié)。本文將討論高分辨率掃描電鏡在生物樣品分析中的應(yīng)用。一、細(xì)胞形態(tài)和表面結(jié)構(gòu)的觀察它能夠詳細(xì)觀察到細(xì)胞的形態(tài)、表面結(jié)構(gòu)以及細(xì)胞間的相互作用。例如，在觀察細(xì)胞表面時(shí)，能夠清晰地揭示細(xì)胞膜的形態(tài)、細(xì)胞突起、微絨毛等微觀結(jié)構(gòu)。此外，還可以用于...

2025

8-13

環(huán)境真空掃描電鏡的原理與技術(shù)優(yōu)勢(shì)

環(huán)境真空掃描電鏡是一種結(jié)合掃描電子顯微鏡與環(huán)境控制技術(shù)的高分辨率顯微技術(shù)，能夠在較寬的環(huán)境條件下進(jìn)行樣品的觀察和分析，特別適用于在傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡無(wú)法有效操作的樣品，如水分較多、有氣體揮發(fā)或是需要特定氣氛的樣品。一、工作原理環(huán)境真空掃描電鏡的核心原理與傳統(tǒng)SEM類似，都是通過(guò)掃描電子束與樣品表面相互作用產(chǎn)生信號(hào)，并通過(guò)這些信號(hào)獲取圖像。然而，最大的特點(diǎn)是在掃描過(guò)程中，樣品并不需要像傳統(tǒng)SEM一樣在高真空條件下操作，而是可以在一定的氣壓范圍內(nèi)進(jìn)行分析。為了實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn)，它采用了...

2025

8-10

透射掃描電子顯微鏡在納米科學(xué)中的應(yīng)用

透射掃描電子顯微鏡是一種結(jié)合了透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡優(yōu)點(diǎn)的高分辨率顯微技術(shù)。在納米科學(xué)研究中，憑借其超高的分辨率和能夠?qū)悠愤M(jìn)行多層次、多角度分析的能力，成為了重要的實(shí)驗(yàn)工具。本文將探討透射掃描電子顯微鏡在納米科學(xué)中的應(yīng)用。一、納米材料的結(jié)構(gòu)表征納米材料在納米科技中具有重要的應(yīng)用，如納米管、納米顆粒、量子點(diǎn)等。它能夠以很高的分辨率觀察到這些材料的結(jié)構(gòu)、尺寸、形態(tài)和排列。通過(guò)使用，可以詳細(xì)了解納米材料的形貌特征、缺陷、晶格結(jié)構(gòu)等，從而為其設(shè)計(jì)與優(yōu)化提供基礎(chǔ)數(shù)據(jù)。例如，可...

2025

8-7

場(chǎng)發(fā)射電鏡的基本原理與技術(shù)特點(diǎn)

場(chǎng)發(fā)射電鏡是一種應(yīng)用于高分辨率成像的電子顯微鏡。與傳統(tǒng)的掃描電子顯微鏡（SEM）不同，它使用場(chǎng)發(fā)射源作為電子束的發(fā)射源，能夠提供比熱發(fā)射電子槍更高的亮度和更小的電子束斑。一、基本原理場(chǎng)發(fā)射電鏡的工作原理基于場(chǎng)發(fā)射效應(yīng)。在高電場(chǎng)的作用下，電子從金屬表面被“拉出”，并加速形成電子束。電子束在電鏡中經(jīng)過(guò)透鏡系統(tǒng)的聚焦后，照射到樣品表面，掃描樣品并與其相互作用，產(chǎn)生二次電子、背散射電子和X射線等信號(hào)，這些信號(hào)被探測(cè)器接收并轉(zhuǎn)化為圖像。其核心優(yōu)勢(shì)在于其電子源——場(chǎng)發(fā)射源，通常是冷場(chǎng)發(fā)射...

2025

7-21

便攜式合金分析儀的工作原理：XRF與LIBS技術(shù)對(duì)比

便攜式合金分析儀的核心技術(shù)以X射線熒光光譜（XRF）與激光誘導(dǎo)擊穿光譜（LIBS）為主，二者在原理、應(yīng)用場(chǎng)景及性能上存在顯著差異。XRF技術(shù)基于元素特征熒光效應(yīng)，通過(guò)X射線管發(fā)射高能X射線激發(fā)樣品原子內(nèi)層電子，外層電子躍遷填補(bǔ)空位時(shí)釋放特定能量的二次X射線（熒光）。探測(cè)器捕獲熒光能量后，與內(nèi)置數(shù)據(jù)庫(kù)比對(duì)實(shí)現(xiàn)元素定性定量分析。該技術(shù)優(yōu)勢(shì)在于無(wú)損檢測(cè)，無(wú)需樣品預(yù)處理，檢測(cè)范圍覆蓋鈦、釩等21種元素，精度達(dá)0.03%-0.5%。例如，奧林巴斯Axon系列采用硅漂移探測(cè)器（SDD）與...

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